【儀器信息網(wǎng) 新品發(fā)布】近日，日立分析儀器(上海)有限公司宣布推出EA1280新型能量色散X射線熒光分析儀，可以用于測量環(huán)境有害物質(zhì)。新型EA1280具有中國國家標(biāo)準(zhǔn)(GB標(biāo)準(zhǔn))建議要求的檢測器分辨率，相比于Si - PIN二極管等其他半導(dǎo)體檢測器，其工作效率和分析準(zhǔn)確度更高。
EA1280X射線熒光分析儀特點(diǎn)及優(yōu)勢：
1. 使用新型高性能半導(dǎo)體檢測器(硅漂移檢測器(SDD))，便于提高測試工作效率和獲得更可靠結(jié)果。
2. 采用同軸光學(xué)器件進(jìn)行樣品觀察和輻照X射線，便于分析各種樣品。
3. 配備易用軟件，便于操作員僅需接受簡單的質(zhì)量控制和過程控制培訓(xùn)即可使用分析儀。
EA1280 技術(shù)規(guī)格
型號 | EA1280 |
測量元素范圍 | 13Al～ 92U |
準(zhǔn)直器（分析光斑尺寸） | 5 mmΦ（1、3 mmΦ：可選） |
初級濾波器（用于優(yōu)化性能） | 5種模式（4臺濾波器+關(guān)閉）自動切換 |
樣品艙 | 環(huán)境大氣 |
檢測器 | 高性能SDD |
分析儀尺寸 | 520（寬）×600（深）×445（高）mm |
重量 | 約69 kg |
樣品艙尺寸 | 304（寬）×304（深）×110（高）mm |
魯公網(wǎng)安備37021402001368號