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碳化硅材料中的鐵、鎂、鈦、鋁、鈣、鈉含量的測定 ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀

日期:2025-04-03 04:18:55     瀏覽:698    下載:1     體積:1.36M    

  【儀器網(wǎng) 行業(yè)應(yīng)用】碳化硅中微量元素分析主要采用原子吸收光譜法、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(ICP-OES)法和電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)法。本文根據(jù)國家標準GB/T3045-2017中電感耦合等離子體質(zhì)譜法測定的方法,經(jīng)過檢測條件的優(yōu)化,建立了電感耦合等離子體光譜(ICP-OES)法測定碳化硅粉末中鐵、鎂、鈦、鋁、鈣、鈉含量的方法,可供相關(guān)人員參考。

碳化硅材料測定

  PART ONE實驗部分

  儀器與試劑

  ICP-7700型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀;

  氫氟酸;

  鹽酸;

  碳化硅樣品。

  實驗條件

  樣品處理

  稱取約1.0g樣品(精確至0.0001g),放入鉑皿中。用少量水濕潤,加氫氟酸10mL,于電爐上蒸發(fā)至干,再加氫氟酸5mL繼續(xù)蒸發(fā)至干,保持30min,取下稍冷,加(1+1)鹽酸15mL,于電爐上加熱15min,稍冷,用中速濾紙過濾用溫?zé)岬?5+95)的鹽酸洗滌鉑皿及殘留物8次,再用超純水洗滌濾紙及殘留物8次。濾液及洗液收集于100mL容量瓶中,冷卻后稀釋至刻度,搖勻,待測。

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