【分析儀器網(wǎng) 新品動態(tài)】日立高新技術(shù)原子力顯微鏡AFM100及高性能AFM100 Plus系列上市發(fā)售。該系列追求操作性并提高了處理量，可用于科學研究開發(fā)以及質(zhì)量管理，包括高性能AFM100 Plus及其入門型號AFM100兩種機型。

　　原子力顯微鏡AFM100及高性能AFM100 Plus系列產(chǎn)品特點：

　　1.提高了操作性、可靠性及總處理量

　　為簡化過去操作繁瑣的懸臂更換，采用新開發(fā)的預裝方式*1懸臂，提高了操作性。而且，通過配備自動向?qū)Чδ埽€可以根據(jù)樣品的表面形貌，自動設(shè)置zui佳測量條件，對探針進行接觸狀態(tài)控制和掃描速度調(diào)整等，任何人測量都可以得到穩(wěn)定的結(jié)果，從而提高了數(shù)據(jù)的可靠性。此外，該機型支持自動多點測量，只需點擊一下，從測量，到圖像數(shù)據(jù)分析、保存可一次性完成，大大縮短了數(shù)據(jù)測量分析時間。

　　2.提高了與本公司SEM(Scanning Electronic Microscope)裝置的親和性

　　選配功能“AFM標記功能”通過采用日立高新技術(shù)自主開發(fā)的S?Mic.(S?Mic：AFM-SEM相關(guān)顯微鏡法)觀察方法,提高了與掃描電子顯微鏡SEM裝置的親和性。在觀察樣品的同一位置時，可以充分發(fā)揮各個設(shè)備的特性，對樣品進行機械特性、電氣特性、成分分析等檢測，易于開展多方面分析。

　　3.實現(xiàn)裝置的擴展性和持續(xù)性

　　為確保用戶可長期使用，該裝置標配控制軟件免費下載服務(wù)和能夠自行診斷意外故障因素的自檢功能。因此，用戶只需自己動手進行軟件升級，即可始終保持新性能。

　　AFM作為一種掃描探針顯微鏡(SPM : Scanning Probe Microscope),使用前端直徑為數(shù)納米(1納米：百萬分之一毫米)的尖銳探針掃描樣品表面，可同時實現(xiàn)納米級別的樣品表面的形貌觀察和物性映射評估。AFM已廣泛應(yīng)用于電池材料、半導體、高分子、生物材料等各個領(lǐng)域的科學研究開發(fā)和質(zhì)量管理。